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當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心材料樣品檢測微型真空探針熱臺(tái)

  • KT-Z165M44RT實(shí)驗(yàn)室微型四探針真空探針臺(tái)

    實(shí)驗(yàn)室微型四探針真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器,半導(dǎo)體,光電,集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。

    更新時(shí)間:2024-03-27
    產(chǎn)品型號(hào):KT-Z165M44RT
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  • KT-Z165M44RT鄭科探微型真空探針臺(tái)

    鄭科探微型真空探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于表面分析、加速器技術(shù)、等離子體技術(shù)、電真空器件制造及真空的各個(gè)領(lǐng)域。設(shè)備的具體組成主要包括真空測量系統(tǒng)、真空室、閥門及真空管路、電器控制系統(tǒng)等

    更新時(shí)間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號(hào):KT-Z165M44RT
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  • 低溫真空探針臺(tái)鄭科探

    低溫真空探針臺(tái)鄭科探主要應(yīng)用于傳感器,半導(dǎo)體,光電,集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。

    更新時(shí)間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號(hào):
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  • 低溫探針臺(tái)  高溫真空微型測試臺(tái)

    低溫探針臺(tái) 高溫真空微型測試臺(tái) 真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器,半導(dǎo)體,光電,集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。

    更新時(shí)間:2024-01-10
    產(chǎn)品型號(hào):
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  • 真空測試微型探針臺(tái)

    真空測試微型探針臺(tái) 該腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口其真空度用機(jī)械泵可達(dá)<5Pa分子泵可達(dá)<-3Pa。真空信號(hào)連接處使用級(jí)別真空電極信號(hào)接頭,保證氣密性及抗干擾性能。使用時(shí)將需將待檢測的器件方在加熱臺(tái)面,探針尖處由3軸可移動(dòng)探針手動(dòng)調(diào)節(jié)移動(dòng)至被測試器件的引腳處,外部信號(hào)線連接測試儀器來測試電學(xué)信號(hào)。

    更新時(shí)間:2024-03-27
    產(chǎn)品型號(hào):
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