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  • KT-Z1604TZ真空探針臺(tái)測(cè)試設(shè)備  高低溫測(cè)試臺(tái)

    真空探針臺(tái)測(cè)試設(shè)備 高低溫測(cè)試臺(tái)探針臂為X/Y/Z三軸移動(dòng),三個(gè)方向均可在真空環(huán)境下精密移位調(diào)節(jié),其中X方向調(diào)節(jié)范圍:0-30mm;y方向調(diào)節(jié)范圍:0-20mm;z方向調(diào)節(jié)范圍:0-20mm;用戶可根據(jù)需要自行調(diào)節(jié)。使用時(shí)將需檢測(cè)的器件固定在加熱臺(tái)上,再微調(diào)探針支架X/Y/Z 方向行程,通過(guò)顯微鏡觀察,使探針對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)點(diǎn)后,即可進(jìn)行

    更新時(shí)間:2024-03-27
    產(chǎn)品型號(hào):KT-Z1604TZ
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  • KT高低溫控制真空探針臺(tái) *

    該探針臺(tái)的承片臺(tái)X/Y/Z三個(gè)方向均可在真空環(huán)境下調(diào)節(jié),其中X方向調(diào)節(jié)范圍:0-30mm;y方向調(diào)節(jié)高低溫控制真空探針臺(tái) * 范圍:0-13mm;z方向調(diào)節(jié)范圍:0-13mm;用戶可根據(jù)需要自行調(diào)節(jié)。使用時(shí)將需檢測(cè)的器件固定在加熱臺(tái)上,再微調(diào)探針支架X/Y/Z 方向行程,通過(guò)顯微鏡觀察,使探針對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)點(diǎn)后,即可進(jìn)行檢測(cè)。

    更新時(shí)間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號(hào):KT
    瀏覽量:1546
  • 真空測(cè)試微型探針臺(tái)

    真空測(cè)試微型探針臺(tái) 該腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口其真空度用機(jī)械泵可達(dá)<5Pa分子泵可達(dá)<-3Pa。真空信號(hào)連接處使用級(jí)別真空電極信號(hào)接頭,保證氣密性及抗干擾性能。使用時(shí)將需將待檢測(cè)的器件方在加熱臺(tái)面,探針尖處由3軸可移動(dòng)探針手動(dòng)調(diào)節(jié)移動(dòng)至被測(cè)試器件的引腳處,外部信號(hào)線連接測(cè)試儀器來(lái)測(cè)試電學(xué)信號(hào)。

    更新時(shí)間:2024-03-27
    產(chǎn)品型號(hào):
    瀏覽量:1356
  • 實(shí)驗(yàn)室真空加熱腔體 探針臺(tái)

    實(shí)驗(yàn)室真空加熱腔體 探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本

    更新時(shí)間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號(hào):
    瀏覽量:1589
  • 真空腔體氣體傳感器

    真空腔體氣體傳感器 加熱主要用于氣體敏感材料或其他對(duì)環(huán)境敏感性材料中的電化學(xué)信號(hào)測(cè)試。測(cè)試腔體可擴(kuò)展模塊較多,該腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口和4-8芯信號(hào)真空電極及真空計(jì)接口,腔體上部安裝有φ80石英觀察片方便觀察樣品和光學(xué)用途。

    更新時(shí)間:2024-03-27
    產(chǎn)品型號(hào):
    瀏覽量:1409
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